현미경 모듈(개조대응) 정립형 금속현미경 / Nikon 신품 판매

현미경 모듈

– Modification 지원 광학 모듈
– 접안/대물 모듈
– 조명 모듈
– 포커싱 모듈

접안경 튜브 / 조명기 / 대물 렌즈 / 접안경 / 마이크로 미터

실험 및 연구는 물론 제조 및 검사를 위해 CFI60 및 CF &IC 광학 시스템을 지원하는 Nikon 장비와 통합되는 현미경 장치.

* 광학경통Head Unit
– 조명장치의 부착이 가능한 Unit
– 삼안경통은 접안Lens을 교체하여 F.O.V  
  (시야수를 확대 가능) 
– ESD(정전기방지) Type, Tilt Type

스테이지 홀더

• 빌트인 에피 스코픽 및이 스코픽 광원은 모두 장수명 백색 LED입니다.옵션 LED 링 라이트는 비스듬한 및 8- 세그먼트 된 개별 ON / OFF 조명으로 선명하고 향상된 엣지 대비를 생성합니다.

할로겐 / 섬유 조명기

– High-Intensity 12V-50W Halogen Light Source: LV-LH50PC Precentered Lamphouse

• 할로겐 조명기-고강도 12V-50W 할로겐 광원 : LV-LH50PC

 파이버 일루미네이터-   HG 사전 중앙 파이버 일루미네이터— 강화
(LV-UEPI2 / LV-UEPI2A의 경우)

산업용 현미경의 목표

– 무한 광학을 CF 광학 시스템의 우수한 성능과 결합

– Nikon의 독점 광학 시스템 인 CFI60 시스템을 위해 설계

– 신 표준 인 60mm의 초점 거리

– 높은 NA를 유지

– 긴 작업 거리

– 높은 대비와 고해상도로 선명하고 또렷한 이미지를 생성

유니버설 일루미네이터 / LED 일루미네이터

이 조명 시스템은 CFI60-2 / CFI 60 광학 시스템을 지원함.

LV-UEPI-N
– 명시야(B.F),암시야(D.F),편광미분간섭(DIC) 관찰
– 가능 에서 암시야로 변경時 시야조리개 와 구경조리개   자동 개방
– 암시야에서 명시야로 변환시 이전의 시야조리개 및 구경조리개로 전환

LV-UEPI2
– 명시야(B.F),암시야(D.F)간이 편광,간이편광
  미분 간섭(DIC) 반사 형광 관찰의 광학 성능
– 현미경 조작의 최소화하여 시야 조리개
  구경 조리개 셔터. UV컷 필터등의 최적의 조명 연동 기능

LV-UEPI2A
 – 명시야(B.F),암시야(D.F)간이 편광,간이편광
 – 미분 간섭(DIC) 반사 형광 관찰의 광학 성능
 – 조명 교환 터릿방식/구경 조리개 전동방식
 – 조명 전압 제어, 조명 선택 

                                               – 대물 렌즈와 관찰 조명 방법에 따른 최적화
                                               – 레볼버 전동 변경,PC의 외부 제어방식

LV-EPILED White LED Illuminator
– 컴팩트 디자인과 저중량
– 백색광 LED illuminator는 Briightfield 사용 
– 외부 전원 연결장치로 제어 가능 
– 콘트롤러 제어 가능 

렌즈 관련 액세서리

• 접안 렌즈 마이크로 미터

– 대물 렌즈와 결합 된이 액세서리

– 주로 대물 렌즈 확대를 확인하는 데 사용

 – 100 분의 10 밀리미터로 보정.

• CFN Filar Micrometer 접안 렌즈 10xA

Main scale 0.1mm/calibration Stroke : 10mm 
Sub scale 0.01mm/calibration 

• 객관적인 마이크로 미터

– 접안 렌즈 마이크로 미터로 구성된이 액세서리는

 – 객관적인 배율을 확인하는 데 사용

               – 100 분의 1 밀리미터로 보정

• 플로팅 오브젝티브 마이크로 미터

-0.01mm 그리드로 교정.

간섭계 장비 TI / DI

• Michaelson (TI) 및 Mirau (DI) 유형을 사용.

LV-UEPI Universal Epi-illuminator ESD로 구성된이 간섭계 장치는 마이크로 미터 접안 렌즈 또는 카메라를 통한 광도,

간섭 색상 또는 프린지의 변화를 관찰하여 샘플 표면의 미세한 불균일성을 확인할 수 있습니다.

측정은 완전히 비접촉식으로 이루어지기 때문에 시료 표면이 손상 될 위험이 없습니다.또한, 간섭 무늬가 백색광으로 보일 수 있기 때문에,

 프린지 수를 결정하기위한 기초로서 0 레벨의 검은 색 또는 흰색 간섭

                                              무늬 가 사용될 수있다

                                            • 표준 시야 (F.O.V. 22) 외에 초광 시야 (F.O.V. 25) 응용 분야에도 사용

                                               할  수  있습니다

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